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    AA-M雙光子顯微自相關(guān)儀提供了兩個(gè)同時(shí)測(cè)量的點(diǎn):一個(gè)在顯微鏡的焦平面,另一個(gè)是設(shè)備的光學(xué)頭放置的點(diǎn),即在顯微鏡輸入之前的某個(gè)位置。通過對(duì)兩種測(cè)量值脈寬的比較,確定了由于顯微鏡光學(xué)元件的色散而引起的脈沖展寬。在大多數(shù)應(yīng)用超短脈沖顯微鏡的情況下,表征光束在顯微鏡焦斑上的時(shí)間和空間分布是非常重要的。自相關(guān)儀-雙光子顯微
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    俄羅斯Avesta公司AA-DD實(shí)時(shí)自相關(guān)器通過使用多達(dá)4個(gè)可互換的光電探測(cè)器和光學(xué)器件提供了平滑和快速測(cè)量飛秒和皮秒脈寬,該自相關(guān)器可以覆蓋多個(gè)波長(zhǎng)范圍。還可以根據(jù)客戶需要覆蓋兩個(gè)單獨(dú)的波長(zhǎng)范圍。輸入脈沖的持續(xù)時(shí)間從10飛秒到30皮秒不等,便于不同激光系統(tǒng)的監(jiān)測(cè),特別是飛秒和皮秒振蕩器。AA-DD掃描自相關(guān)儀
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    超寬帶射頻收發(fā)器
    PulsOn 440模塊(簡(jiǎn)稱P440)是一款波段在3.1G到4.8GHz之間的超寬帶無線收發(fā)器,可以實(shí)現(xiàn)如下功能: ▲ 采用雙向飛行時(shí)間(TW-TOF)方式在2個(gè)或者2個(gè)以上的模塊之間進(jìn)行測(cè)距,測(cè)量準(zhǔn)確度可達(dá)50px,刷新率高達(dá)125Hz 。 ▲ 可以在兩個(gè)或多個(gè)模塊之間實(shí)現(xiàn)通信。超寬帶射頻收發(fā)器
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    頻率合成器
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    高精度時(shí)間頻率分析儀是強(qiáng)大的時(shí)間測(cè)量?jī)x器。除了傳統(tǒng)的“頻率計(jì)數(shù)器”、“時(shí)間間隔計(jì)數(shù)器”和“通用計(jì)數(shù)器”所提供的功能外,包含了一些新功能,以更高的速度運(yùn)行,提供連續(xù)的測(cè)量能力,并報(bào)告結(jié)果及其發(fā)生的時(shí)間。這些功能使您能夠更深入地了解信號(hào)的動(dòng)態(tài)特性和獲得更高的吞吐量。
    型號(hào):Time frequency analyzer    廠商性質(zhì):代理商
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    皮米精度位移測(cè)量?jī)x
    昊量光電推出的皮米精度位移測(cè)量?jī)xquDIS是低至納米范圍位移測(cè)量的理想儀器,達(dá)到了*50pm的重復(fù)精度。quDIS支持三個(gè)測(cè)量通道,使其可以適用于任意多軸測(cè)量應(yīng)用。皮米精度位置測(cè)量?jī)x同樣采用激光干涉法,不過與傳統(tǒng)激光干涉儀相比,其集成了法珀腔(Reference cavity)及飽和吸收氣室(GC)作為頻率校準(zhǔn)參考,通過激光波長(zhǎng)調(diào)諧掃描,比較兩種不同的干涉圖樣,可以實(shí)現(xiàn)其它設(shè)備所不具有的
    型號(hào):    廠商性質(zhì):代理商
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    EOT高速光電探測(cè)器
    EOT的設(shè)施、設(shè)備和系統(tǒng)等產(chǎn)品質(zhì)量始終滿足所有客戶的使用要求。目前生產(chǎn)的產(chǎn)品包括:應(yīng)用在各類激光器中的法拉第旋轉(zhuǎn)器和光學(xué)隔離器、光電探測(cè)器和光纖耦合高功率激光準(zhǔn)直器等。EOT高速光電探測(cè)器
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  • 太赫茲時(shí)域光譜Kit
    太赫茲時(shí)域光譜Kit
    如果您熟悉THz時(shí)域光譜儀的原理,并且已經(jīng)擁有飛秒激光器,您可以選擇THz套件來構(gòu)建自己的TDS系統(tǒng)。我們可為您提供軟件、信號(hào)發(fā)生器、數(shù)據(jù)采集單元、延時(shí)線和THz天線等成套配件。我們還可以為您提供關(guān)于構(gòu)建THz光譜儀所需部件的建議。線性延時(shí)器和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)可通過T3DS軟件包,或可安裝在單獨(dú)筆記本電腦上進(jìn)行控制。太赫茲時(shí)域光譜Kit
    型號(hào):    廠商性質(zhì):代理商
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  • EUV,X射線波前探測(cè)器(X射線光束分析儀)
    EUV,X射線波前探測(cè)器(X射線光束分析儀)
    該款EUV,X射線Hartmann-Shack波前傳感器配置是為全面分析激光束和光學(xué)特性而設(shè)計(jì)。系統(tǒng)采用微透鏡陣列將入射波分成大量的子射線(如右下圖),每個(gè)焦點(diǎn)的強(qiáng)度和位置由CCD相機(jī)獲取,經(jīng)后續(xù)計(jì)算重構(gòu)得到光強(qiáng)分布和波前分析。EUV,X射線波前探測(cè)器(X射線光束分析儀)
    型號(hào):    廠商性質(zhì):代理商
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