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Mprobe 20 薄膜測(cè)量系統(tǒng) (單點(diǎn)測(cè)量)

簡(jiǎn)要描述:Mprobe 20 薄膜測(cè)量系統(tǒng) (單點(diǎn)測(cè)量)是一款桌面式單點(diǎn)薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)薄膜厚度和折射率測(cè)量,測(cè)量厚度范圍1nm-1mm.

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2021-08-14
  • 訪  問  量:1338
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Mprobe 20 薄膜測(cè)量系統(tǒng) (單點(diǎn)測(cè)量)



MProbe 20是一款桌面式單點(diǎn)薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)薄膜厚度和折射率測(cè)量,測(cè)量厚度范圍1nm-1mm,MProbe 20可對(duì)多層膜層進(jìn)行測(cè)量。不同的MProbe 20配置主要由光譜儀的波長(zhǎng)范圍和分辨率來區(qū)分,這又決定了可以測(cè)量的材料的厚度范圍和類型。該測(cè)量技術(shù)基于光譜反射率,具有快速、可靠、無損等特點(diǎn)。在世界范圍內(nèi)有成千上萬的應(yīng)用。

Mprobe 20 薄膜測(cè)量系統(tǒng) (單點(diǎn)測(cè)量)配置包括:

主單元(包括光譜儀、光源、光控制器、微處理器)
SH200A樣品臺(tái),帶對(duì)焦鏡頭,可微調(diào)
光導(dǎo)纖維反射探頭
TFCompanion -RA軟件、USB適配器(授權(quán)密鑰)、USB記憶棒附帶軟件發(fā)行、用戶指南等資料
根據(jù)型號(hào)和黑色吸收體的不同,校準(zhǔn)裝置(裸硅片和/或石英板和/或鋁鏡)
測(cè)試樣品200nm的氧化硅或PET薄膜,視型號(hào)而定
USB或LAN線(用于連接主機(jī)和PC)
24VDC電源適配器(110/220V)


核心指標(biāo):
精度:<0.01nm或0.01%(在200nm的氧化物上測(cè)量100次)
精度:<1nm或0.2%(依賴于filmstack)
穩(wěn)定性:< 0.02nm或0.2%(每天測(cè)量20天)
光斑大小:< 1毫米
樣本尺寸:>= 10mm
參見下面小冊(cè)子中MProbe 20薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)可用配置的詳細(xì)規(guī)格


選型列表:

MProbe 20 

波長(zhǎng)范圍

厚度范圍

VIS

400nm -1100nm

10nm – 75 μm

UVVISSR

200nm -1100nm

1nm -75μm

VISHR

700nm-1700nm

1μm-400μm

NIR

900nm-1700nm

50nm – 85μm

UVVisF

200nm -800nm

1nm – 5μm

UVVISNIR

200nm-1700nm

1nm -75μm

NIRHR

200nm -1100nm

10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)


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