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MPROBE 70在線薄膜厚度實(shí)時測量儀系統(tǒng)
在線薄膜厚度實(shí)時測量儀系統(tǒng)-MPROBE 70是一種高性能厚度測量系統(tǒng)。在線薄膜厚度實(shí)時測量儀-MPROBE 70基于光譜反射率和/或透射率測量，專為產(chǎn)線的連續(xù)測量而設(shè)計

型號：MPROBE 70 廠商性質(zhì)：代理商
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MPROBE 60薄膜厚度均勻度在線測量系統(tǒng)
薄膜厚度均勻度在線測量系統(tǒng)-MPROBE 60，MProbe 60 是一站式系統(tǒng)，專為研發(fā)中心和小型制造而設(shè)計。它結(jié)合了測量厚度/n&k 與自動化小點(diǎn)測量的能力。MProbe 60 已應(yīng)用于研發(fā)納米技術(shù)中心。

型號：MPROBE 60 廠商性質(zhì)：代理商
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Vcsel激光器光束在線測量系統(tǒng)，3D人臉識別
Vcsel激光器光束在線測量系統(tǒng)，3D人臉識別,CinCam CMOS-1.001-Nano PlusX-M在線測量系統(tǒng)為德國CINOGY為Vcsel激光器發(fā)散角、光斑尺寸、功率等參數(shù)測量設(shè)計生產(chǎn)的在線測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)為全自動的在線測量系統(tǒng)。目前我們主要的客戶有為Apple手機(jī)3D人臉識別代工的深圳意法半導(dǎo)體（ST Microelectronics）等。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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